C&H 제품소개-육상탐사

탄성파탐사 전기탐사 전자탐사 자력탐사 레이다탐사(GPR) 변위 모니터링 동적 콘 관입시험 방사능탐사

PANDA®

동적 콘 관입 시험기 PANDA®

Dynamic cone penetrometer

PANDA®

Dual Mass DCP Kit (w/ Vertek Smart DCP Kit)

동적 콘 관입 시험기

Dynamic cone penetrometer

Dual Mass DCP Kit (w/ Vertek Smart DCP Kit)